上海瑞鑫生產(chǎn)供應(yīng)24通道農(nóng)藥殘留速測(cè)儀
上海瑞鑫供應(yīng)食品安全檢測(cè)儀
上海瑞鑫供應(yīng)8通道農(nóng)藥殘留速測(cè)儀
上海瑞鑫生產(chǎn)供應(yīng)JT-102M糧食安全檢測(cè)儀
上海瑞鑫對(duì)SP-801B多功能食品分析儀進(jìn)行技術(shù)升級(jí)
上海瑞鑫供應(yīng)12通道農(nóng)藥殘留速測(cè)儀
上海瑞鑫生產(chǎn)供應(yīng)農(nóng)藥殘留檢測(cè)試劑
上海瑞鑫推出SP-801D多功能食品安全儀
上海瑞鑫推出JT-102M糧食安全檢測(cè)儀
上海瑞鑫生產(chǎn)供應(yīng)12通道農(nóng)藥殘留速測(cè)儀
XRD檢測(cè)聚合物結(jié)晶度測(cè)定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù)。有時(shí),可以通過(guò)評(píng)估結(jié)晶度來(lái)確定剛度不足,裂紋,發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,測(cè)量結(jié)晶度的方法包括密度,熱分析,NMR、IR以及XRD方法。這里將給出通過(guò)X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測(cè)定結(jié)晶度的方法的說(shuō)明以及實(shí)例。結(jié)晶度對(duì)于含有非晶態(tài)的聚合物,其散射信號(hào)來(lái)源于兩部分:晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號(hào)面積的比值:D8 DISCOVER系列是市面上準(zhǔn)確、功能強(qiáng)大和靈活的X射線衍射解決方案。云南實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)XRD衍射儀
布魯克獨(dú)有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹(shù)立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能,可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時(shí)。除此之外,LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上的一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,適用于所有波長(zhǎng)(從Cr到Ag),具有準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率和角分辨率,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。浙江進(jìn)口XRD衍射儀根據(jù)應(yīng)用需求,調(diào)節(jié)探測(cè)器的位置和方向,包括0°/ 90°免工具切換以及探測(cè)器位置可連續(xù)變化、支持自動(dòng)對(duì)光。
XRD檢測(cè)納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關(guān),而X射線衍射是測(cè)定納米材料晶尺寸的有效方法之一。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個(gè)完整小單晶的大小)可通過(guò)謝樂(lè)公示計(jì)算Dhkl:晶粒尺寸,垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬(或展寬)θ:hkl晶面的bragg角度λ:入射X光的波長(zhǎng),一般Cu靶為1.54埃K:常數(shù)(晶粒近似為球形,K=0.89;其他K=1)ADVANCE采用了開(kāi)放式設(shè)計(jì)并具有不受約束的模塊化特性的同時(shí),將用戶友好性、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,這就是布魯克DAVINCI設(shè)計(jì)
藥物:從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),D8D為藥品的整個(gè)生命周期提供支持,其中包括結(jié)構(gòu)測(cè)定、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測(cè)試。地質(zhì)學(xué):D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選。借助μXRD,哪怕是對(duì)小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測(cè)定也不在話下。金屬:在常見(jiàn)的金屬樣品檢測(cè)技術(shù)中。殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測(cè)不過(guò)是其中的一小部分,檢測(cè)目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求。薄膜計(jì)量:從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評(píng)估晶體質(zhì)量、薄膜厚度、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù)。在DIFFRAC.LEPTOS中,進(jìn)行晶片分析:分析晶片的層厚度和外延層濃度的均勻性。
BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過(guò)程中的系統(tǒng)誤差,是分析誤差的重要來(lái)源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,將樣品制備問(wèn)題可視化,如粒徑或擇優(yōu)取向。避免就統(tǒng)計(jì)而言沒(méi)有代表性的測(cè)量結(jié)果。運(yùn)營(yíng)成本低不消耗水硅條帶探測(cè)器技術(shù),無(wú)需使用探測(cè)器氣體近乎無(wú)限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗(650W)布魯克與水泥業(yè)密切合作,不斷改進(jìn)其分析解決方案。在D2PHASER方面,我們針對(duì)水泥業(yè)提供了一個(gè)軟件包,其中包括針對(duì)10多種原材料、熟料和不同水泥類型制定的、供工廠應(yīng)用的測(cè)量和數(shù)據(jù)評(píng)估方法,可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué)。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運(yùn)營(yíng)。對(duì)于每天需要測(cè)量大量樣品的大型工廠,請(qǐng)參見(jiàn)D8ENDEAVOR。樣品臺(tái)的卡口座允許在測(cè)角儀上快速準(zhǔn)確地更換整個(gè)樣品臺(tái),較大限度地提高實(shí)驗(yàn)靈活性。蘇州XRD檢測(cè)分析
D8測(cè)角儀巨有市場(chǎng)超前地精確度,為布魯克獨(dú)有的準(zhǔn)直保證奠定了基礎(chǔ)。云南實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)XRD衍射儀
多層膜XRR引言X射線反射率(XRR:X-RayReflectivity)單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無(wú)損檢測(cè)手段。由于具有出色的適應(yīng)能力,使用D8ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。無(wú)論是新手用戶還是專業(yè)用戶,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過(guò)布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具、免準(zhǔn)直,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無(wú)其他粉末衍射儀的精度超過(guò)D8ADVANCE。云南實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)XRD衍射儀