PBI涂層表征方法：涂層附著力和劃痕試驗(yàn)：使用交叉切割試驗(yàn)確定涂層與基材分離的阻力。使用工具在涂層表面切割出直角格子圖案，一直穿透到基材。使用劃痕機(jī)研究涂層的耐刮擦性。為了研究“臨界載荷”，對每個涂層系統(tǒng)進(jìn)行了至少 3 次劃痕試驗(yàn)，速度為 1 mm/s，載荷從 0.5 增加到 100 N，劃痕距離為 15 mm（圖 1）?；瑒幽p試驗(yàn)：根據(jù) ASTM G176試驗(yàn)臺，在塊環(huán)上進(jìn)行滑動摩擦和磨損試驗(yàn)（圖 2）。將固定涂層壓在旋轉(zhuǎn)的金屬環(huán)上。使用的對應(yīng)物是 100 個 Cr6 鋼環(huán)，外徑為 13 mm，平均表面粗糙度為 Ra≈ 0.2 μm。測試在室溫下的干滑動條件下進(jìn)行，參數(shù)如下：標(biāo)稱初始接觸壓力 = 0.5 MPa、滑動速度 = 1 m/s、測試時間 = 2 h。磨損量通過白光顯微鏡測量。PBI 塑料在新能源汽車電池組件中應(yīng)用，有助于提高電池性能和安全性。上海PBI齒輪尺寸

PBI涂層中添加阻隔材料用于阻止任何涂層中氣態(tài)副產(chǎn)物的遷移。電子或航空航天等敏感應(yīng)用需要無脫氣涂層。阻隔物質(zhì)表現(xiàn)出低滲透性，以每天在 1 個大氣壓 (cm3-ml/day-atm) 下通過給定厚度的特定聚合物薄膜的測量氣體表示。阻隔聚合物是大分子，具有顯著限制氣體、蒸汽和液體通過的能力。 它們普遍應(yīng)用于包裝行業(yè)，用于食品保存和其他保護(hù)。 對不同氣體的滲透性的文獻(xiàn)圖以及添加阻隔聚合物的 PBI 涂層的實(shí)驗(yàn)。阻隔聚合物數(shù)據(jù)表明哪種水蒸氣和 O2 滲透性優(yōu)于其他（好選擇左下角），經(jīng)許可摘錄。圖表（右）表示當(dāng) PBI 混合物中阻隔聚合物的濃度超過 10% 時，釋氣量較低。上海PBI密封條批發(fā)價格由于其出色的尺寸穩(wěn)定性，PBI 塑料可用于精密儀器制造，確保儀器精度。

使用 1-甲基咪唑作為相容劑，將 m-PBI 與正交官能團(tuán)熱重排聚酰亞胺 HAB-6FDA-CI 混合（圖 7b），以提高 m-PBI 的 H2 滲透性，同時保持高選擇性。相容的混合膜在 400℃下進(jìn)行熱處理，這樣聚酰亞胺就能熱重排成滲透性更強(qiáng)的聚苯并惡唑結(jié)構(gòu)?；旌夏ぴ?H2 滲透性、H2/CO2 選擇性和機(jī)械性能（柔韌性足以彎曲 180°而不斷裂）方面均有改善。這種行為歸因于 m-PBI 基體相的同時致密化，從而提高了選擇性，以及分散聚酰亞胺相的熱重排，從而增強(qiáng)了氣體滲透性。

PBI純樹脂特性：改性 PBI 聚合物的詳細(xì)熱學(xué)和流變學(xué)特性已發(fā)表，并在第 36 屆國際 SAMPE 研討會上進(jìn)行了介紹。熱分析通過差示掃描量熱法 (onset) 測定了 PBl 樣品的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度，如表 1 所示。分子量較低的 PBI 樣品的 Tg 值略低，在 411℃-416℃范圍內(nèi)，而標(biāo)準(zhǔn)聚合物的 Tg 為 425℃，在氮?dú)夂涂諝庵袑λ?PBI 樣品進(jìn)行熱重分析 (10℃ min^(-1))，結(jié)果顯示重量損失曲線相似。與標(biāo)準(zhǔn)PBl一致，所有樣品在空氣中失重100%，在氮?dú)庵锌偸е?5.3%-26.3%，前面10%累計失重溫度為375.9℃-428.6℃（表 1）。PBI塑料的初始開發(fā)是為了滿足NASA的耐火纖維需求。

開裂或起泡：雖然這種情況并不常見，但當(dāng) PBI 部件吸附了水分時，劇烈的環(huán)境沖擊可能會導(dǎo)致嚴(yán)重的部件損壞。當(dāng)含水分的 PBI 部件經(jīng)歷溫度和/或壓力的急劇變化時，可能會出現(xiàn)這種情況。例如，一個在環(huán)境溫度和壓力下含水量為 4% 的部件，如果被置于 300C 的全真空環(huán)境中，可能會因水分逸出而開裂或起泡。同樣，一個在蒸汽中飽和的 PBI 部件，在快速減壓后可能會開裂或起泡。為避免出現(xiàn)這些情況，用戶必須了解如何儲存和干燥 PBI 部件，并應(yīng)參考本指南。PBI塑料吸收水分后性能會降低。湖北PBI分析儀器測試頭

PBI塑料的生產(chǎn)歷史可以追溯到20世紀(jì)60年代。上海PBI齒輪尺寸

PBI涂層設(shè)備：涂層是在 Brewer Science, Inc. CB-100 旋涂機(jī)上生產(chǎn)的，而噴涂和封裝則使用 Daetec 設(shè)計的定制工具。計量數(shù)據(jù)由 XP-1 觸針輪廓儀、AFP-200 原子力輪廓儀和 Xi-100 光學(xué)輪廓儀生成。在適用的情況下，設(shè)備設(shè)置包括 5 毫克觸筆負(fù)載、較小 4 毫米距離和 0.5 毫米/秒的速度。對于清潔測試，使用點(diǎn)和環(huán)觸點(diǎn)的 Hg 探針（型號 802B-150）、HP 4140B 皮安表源，由 MDC 測量系統(tǒng)支持，具有 I-V 繪圖程序 @ 10 mv 步長從 0-1V [11]。生成典型的 I-V 圖來比較趨勢并研究保護(hù)膜的擊穿電壓。用于材料表征的分析設(shè)備包括 SEM (Hitachi 4700)、能量色散 X 射線光譜 (EDS)、帶 ATR 的 FTIR（Spectrum 100、DGTS 檢測器、ZnSe 涂層附件、Perkin-Elmer）。改良的脫氣熱重測試方法是通過典型的實(shí)驗(yàn)室規(guī)模（+/- 0.1mg）進(jìn)行的。UV 固化設(shè)備包括 Intelli-Ray 400 微處理器控制的光固化系統(tǒng)。上海PBI齒輪尺寸