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高分辨率SEM掃描電鏡+CP磷酸鐵鋰內(nèi)部微裂紋檢測

來源: 發(fā)布時間:2024-05-18

極片雜質(zhì)分析

客戶需求

越來越多的廠商開始重視電池的前處理工藝,尤其是針對極片上的顆?;蛭⒘拷饘贇堅_@些顆?;蛭⒘拷饘贇堅菀自陂L期充放電和激烈碰撞后造成電池短路,甚至可能引起自燃和起爆。想將這些顆?;蛘呓饘贇堅鼜氐?/span>除掉,就要知道其組成,通過雜質(zhì)分析服務(wù)則可以知道道其組成,進而選擇合適工藝將其去除。

解決方案

實驗室選擇了高溫?zé)峤夂碗娀瘜W(xué)氧化等方法進行前處理,這樣可以有效地消解樣品中的微量金屬,還建立了ICP標準曲線,并進行了大量的測試和驗證。合適的前處理方法和ICP標準曲線,保證了檢測結(jié)果的準確性。數(shù)據(jù)回流也能幫助生產(chǎn)廠商有效控制電池中的微量金屬含量,確保電池的安全性和質(zhì)量。 我們的檢測服務(wù)不僅提供數(shù)據(jù)結(jié)果,還為客戶解讀分析報告,幫助其更好地應(yīng)用結(jié)果。高分辨率SEM掃描電鏡+CP磷酸鐵鋰內(nèi)部微裂紋檢測

材料在制備生長過程中受動力學(xué)和熱力學(xué)方面的影響形貌會發(fā)生變化,對形貌變化的調(diào)控和功能性修飾是材料能夠得到實際應(yīng)用的前提。SEM能夠記錄電池材料生長過程中的形貌變化規(guī)律,并據(jù)此推斷電池材料的生長機理,理解材料的形貌和性能之間的內(nèi)在聯(lián)系。正極材料是負責(zé)電池電化學(xué)性能的關(guān)鍵因素,為不斷開發(fā)性價比更高的正極材料就離不開掃描電鏡。

由于三元材料的形貌特征主要繼承自前驅(qū)體的形貌特征,因此通過對比前驅(qū)體材料與其燒結(jié)而成的三元材料SEM圖,就能判斷材料是否具有良好的形貌特征繼承性以及粒度分布是否適宜。掃描電子顯微鏡(SEM),由于具有分辨率高、應(yīng)用范圍廣、樣品制備簡單、圖像景深大等優(yōu)點,在電池正極、負極、隔膜和固態(tài)電解質(zhì)等材料的研發(fā)、改性與性能研究中都發(fā)揮著重要作用。

我們深知,一個準確的檢測結(jié)果對于科研與工業(yè)生產(chǎn)的重要性。因此,我們每年持續(xù)投入5千萬元以上購買設(shè)備,表明我們對研發(fā)和技術(shù)創(chuàng)新的重視,證明我們在不斷更新技術(shù)和設(shè)備,以保持先導(dǎo)地位。我們的團隊成員都是從事檢測行業(yè)10年以上的專業(yè)老師領(lǐng)隊,團隊成員100%碩博學(xué)歷,平均新能源材料檢測領(lǐng)域從業(yè)3年以上。他們的專業(yè)知識和豐富經(jīng)驗可以提供高質(zhì)量的測試服務(wù)。 日立SEM掃描電鏡+CP硅酸鐵鋰內(nèi)部微裂紋檢測通過SEM掃描電鏡,我們能夠觀察電池材料的表面化學(xué)成分和元素分布情況。

質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察

客戶需求

在電池使用過程中,若出現(xiàn)電壓異常、阻抗異常、輸出功率大幅降低等問題時,則會使質(zhì)子交換膜的形貌出現(xiàn)厚度不均勻或涂層剝落等情況,進而引發(fā)電池內(nèi)部化學(xué)反應(yīng)的不穩(wěn)定,影響電池的性能和壽命,因而對質(zhì)子交換膜形貌的觀察和分析是值得且必須要做的。

解決方案

為了確定問題的根源,我們可以采用質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察的方法。先用離子束研磨(CP)對極片、粉末和隔膜的截面切割,在原子層面上對樣品進行表面剝離,從而獲得干凈整潔、組織清晰、沒有劃痕及雜質(zhì)干擾和應(yīng)力損傷層的截面樣品。后用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察質(zhì)子交換膜的形貌、顆粒尺度、涂層、元素摻雜情況等信息,兩種方法結(jié)合可以初步判斷電池的質(zhì)量和壽命。

檢測結(jié)果

形貌:氬離子束切割(CP)+SEM

在新能源電池材料測試領(lǐng)域中,SEM(掃描電子顯微鏡)掃描電鏡技術(shù)以其獨特的優(yōu)勢發(fā)揮著舉足輕重的作用。SEM技術(shù)憑借其高分辨率、大景深以及成像立體感強等特點,能夠深入揭示新能源電池材料的微觀形貌和結(jié)構(gòu)。通過對材料表面的細致觀察,研究人員可以獲取關(guān)于材料的粒度、粒徑分布、球形度以及比表面積等關(guān)鍵信息,這些信息對于理解和優(yōu)化電池的電化學(xué)性能至關(guān)重要。在新能源電池中,材料的形貌特征往往與其電化學(xué)性能密切相關(guān)。例如,三元材料的粒徑、粒度分布以及球形度等參數(shù),會直接影響鋰電池的離子傳輸速率、充放電時間以及能量密度等關(guān)鍵性能指標。利用SEM技術(shù),研究人員可以對這些參數(shù)進行精確測量和分析,從而深入了解材料形貌與性能之間的內(nèi)在聯(lián)系。此外,SEM技術(shù)還可以用于觀測電池粉體顆粒的完整性、裂紋情況以及異物混入等問題,為材料的質(zhì)量控制和優(yōu)化提供有力支持。通過SEM掃描電鏡檢測,可以對電池材料中的晶體形貌和晶粒尺寸進行表征。

正極材料表面CEI膜膜層分析

客戶需求

CEI膜作為一種特殊的電解質(zhì)膜,用于隔離正負極,保護電池免受外部電場的影響。但是,在電池的循環(huán)過程中,CEI膜可能會發(fā)生變化,如厚度增加或減少、成分不均等,這將直接影響電池的循環(huán)性能和使用壽命。

解決方案

為了解決這個問題,團隊開發(fā)了多種技術(shù),其中一種是使用TOF-SIMS技術(shù),這是基于質(zhì)譜分析的表征技術(shù),具有超真空環(huán)境測試、采集深度低、檢測出限低、測試范圍廣等等優(yōu)點。可以實現(xiàn)對固體樣品的表征,分析CEI膜的成分和厚度,從而發(fā)現(xiàn)CEI膜的不完整和過厚/過薄等問題,關(guān)鍵在這一過程中不需要進行物理分離或化學(xué)分離。

檢測結(jié)果

三元正極材料-TOF-SIMS 通過SEM掃描電鏡檢測,可以觀察電池材料中的電化學(xué)界面和界面反應(yīng)情況。太原SEM掃描電鏡測試哪家好

我們的檢測服務(wù)團隊通過SEM掃描電鏡技術(shù),可以幫助客戶解決電池材料的質(zhì)量問題。高分辨率SEM掃描電鏡+CP磷酸鐵鋰內(nèi)部微裂紋檢測

負極孔徑是指多孔固體中孔道的形狀和大小??灼鋵嵤菢O不規(guī)則的,通常常把它視作圓形而以其半徑來表示孔的大小。

電極材料的粒徑和形貌可通過SEM測試觀察,有助于系統(tǒng)研究顆粒位尺寸及電化學(xué)性能的關(guān)系;離子電池負極材料主要分為碳基負極材料(使用多)、合金型負極材料、金屬氧化物負極及材料。掃描電鏡通過電子束轟擊樣品原子核后,樣品可以吸收電子束能量到達激發(fā)態(tài),激發(fā)態(tài)原子可以產(chǎn)生二次電子、背散射電子等,信號探測器對這些電子接收再進行處理成像,[因為產(chǎn)生這些電子的區(qū)域主要為材料表層,可以依此觀測樣品微觀表面的形貌,并測量其孔徑大小。通過CP法可以實現(xiàn)粉末材料截面制備,可針對原始材料、循環(huán)前后及片中顆粒進行分析。結(jié)合SEM表征,能夠分析材料內(nèi)部的形貌如是否含有裂紋、氣孔、孔隙等。

我們的專業(yè)團隊由經(jīng)驗豐富的材料科學(xué)家和工程師組成,他們精通各種材料檢測技術(shù)和分析方法,能夠為客戶提供精細、高效的檢測服務(wù)。我們注重細節(jié),嚴格把控每一個檢測環(huán)節(jié),確保數(shù)據(jù)的準確性和可靠性。我們每年都會投入5千萬元以上購買新的設(shè)備,以確保我們的技術(shù)始終保持準確地位以便更好地服務(wù)每一位客戶。 高分辨率SEM掃描電鏡+CP磷酸鐵鋰內(nèi)部微裂紋檢測