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數(shù)據(jù)準(zhǔn)SEM掃描電鏡干法隔膜厚度檢測(cè)測(cè)定

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-05-17

在動(dòng)力鋰離子電池中,正極材料是關(guān)鍵的部分,其成本占居鋰離子電池的40%左右。正極活性物質(zhì)作為L(zhǎng)IBs的重要原料,決定了LIBs的體積能量密度、循環(huán)表壽命、穩(wěn)定性、安全性等重要性能,相關(guān)的電化學(xué)性能指標(biāo)與正極材料的主元素含量、晶體結(jié)構(gòu)、顆粒度大小、顆粒形狀等密切相關(guān)。

使用SEM可以對(duì)正極材料及其前驅(qū)體的單顆粒形貌,顆粒分布情況等進(jìn)行表征,并結(jié)合能譜對(duì)原料成分和雜質(zhì)進(jìn)行檢驗(yàn)。目前鋰離子電池正極材料以鉆酸鋰,磷酸鐵鋰,錳酸鋰,鎳酸鋰,多元材料為主,其中三元材料包括NCM、NCA,根據(jù)過(guò)渡金屬元素比例有不同的規(guī)格。正極材料一般由對(duì)應(yīng)的金屬化合物和碳酸鋰通過(guò)固相法、共沉淀法、離子交換法等方法合成。選擇的制備工藝,燒結(jié)時(shí)的投料、溫度,燒結(jié)后的研磨情況等會(huì)影響終得到的正極材料顆粒的尺寸和形貌。

SEM掃描電鏡技術(shù)通過(guò)高分辨率的圖像獲取和分析,可以對(duì)電池材料的微觀結(jié)構(gòu)和表面特征進(jìn)行準(zhǔn)確的檢測(cè)。我們公司致力于分析測(cè)試先進(jìn)材料,立足中國(guó)制造,為全國(guó)客戶提供專業(yè)快捷、全方面先進(jìn)材料整體解決方案。 我們使用SEM掃描電鏡檢測(cè)電池材料,可以準(zhǔn)確評(píng)估其結(jié)構(gòu)的均勻性和一致性。數(shù)據(jù)準(zhǔn)SEM掃描電鏡干法隔膜厚度檢測(cè)測(cè)定

利用SEM掃描電鏡技術(shù),我們能夠?yàn)榭蛻籼峁?/span>全方面、準(zhǔn)確的電池材料研發(fā)解決方案。SEM可以提供電池材料表面的高分辨率圖像,幫助檢測(cè)和分析表面形貌的特征,如顆粒形態(tài)、表面結(jié)構(gòu)、紋理等。通過(guò)SEM圖像的測(cè)量與分析,可以獲取電池材料中粒子的大小和分布情況,包括顆粒的平均尺寸、粒徑分布等。

使用SEM結(jié)合能譜分析(EDS),可以確定電池材料的化學(xué)成分,分析樣品中不同元素的含量及其分布情況。而且SEM可以觀察電池材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu),例如電極材料的孔隙結(jié)構(gòu)、纖維材料的微觀結(jié)構(gòu)等,從而評(píng)估材料的組織和形態(tài)特征。通過(guò)SEM,可以觀察電池材料與其他組件之間的界面情況,如活性物質(zhì)與電解質(zhì)的界面、電極與集流體的界面等,從而評(píng)估界面的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。

作為一家專業(yè)的電池材料檢測(cè)機(jī)構(gòu),我們?cè)谛履茉措姵夭牧蠝y(cè)試領(lǐng)域處于先導(dǎo)地位。我們已經(jīng)建立了20個(gè)大型測(cè)試分析實(shí)驗(yàn)室,包括材料檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室、成分分析實(shí)驗(yàn)室、生物實(shí)驗(yàn)室、環(huán)境檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室等。這些實(shí)驗(yàn)室擁有多種大型精密設(shè)備,如TEM、FIB、XPS等,可提供全方面的分析測(cè)試服務(wù)。我們的實(shí)驗(yàn)室規(guī)模龐大,覆蓋領(lǐng)域,能夠滿足不同客戶的需求。 高效SEM掃描電鏡+CP人造石墨截面形貌表征測(cè)試檢測(cè)我們的SEM掃描電鏡能夠提供電池材料的三維形貌重建和納米級(jí)分析。

由于電池材料的觀察尺度在亞微米即幾百納米到幾微米的范圍,普通光學(xué)顯微鏡無(wú)法滿足觀察的需求,而更高放大倍數(shù)的電子顯微鏡則經(jīng)常被用來(lái)觀察電池材料。

掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細(xì)胞生物學(xué)研究工具,主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。掃描電子顯微鏡可以觀察到鋰電材料的粒徑大小和均勻程度,以及納米材料自身的特殊形貌,甚至通過(guò)觀察材料在循環(huán)過(guò)程中發(fā)生的形變我們可以判斷其對(duì)應(yīng)的循環(huán)保持能力好壞。

作為新能源電池材料測(cè)試領(lǐng)域的專業(yè)團(tuán)隊(duì),我們擁有80余臺(tái)大中型儀器設(shè)備,總價(jià)值超2億元,涵蓋了電池材料測(cè)試的各個(gè)方面。這些儀器可以滿足各種不同的測(cè)試需求,包括成分分析、物理性質(zhì)測(cè)試、化學(xué)性能評(píng)估等等。此外,這些儀器設(shè)備每年都會(huì)進(jìn)行定期維護(hù)和升級(jí),以確保其測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

SEM在鋰電行業(yè)做研發(fā)、產(chǎn)線異常分析時(shí)必不可少的設(shè)備,可以協(xié)助進(jìn)行各種材料的形態(tài)結(jié)構(gòu)、界面狀況、損傷機(jī)制及材料性能預(yù)測(cè)等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過(guò)程,可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結(jié)方式和它們的真實(shí)邊界,也可以觀察在不同條件下邊界移動(dòng)的方式,還可以檢查晶體在表面機(jī)械加工中引起的損傷和輻射損傷等。

觀察正極和負(fù)極粉末形貌,隔膜(孔的外貌及涂層分析、正反面及截面分析)及箔材表面形貌,粉末的一次和二次顆粒形貌和尺寸、元素分析、電池極片分散效果、極片輥壓后效果等等。涉及物體表面和剖面,形貌和成分分析。我們不僅提供電池材料的常規(guī)測(cè)試,還致力于電池材料高水平測(cè)試與失效分析。這可以幫助企業(yè)提升研發(fā)水平,推動(dòng)產(chǎn)品研發(fā)成功。

我們的團(tuán)隊(duì)成員都是從事檢測(cè)行業(yè)10年以上的工程師領(lǐng)隊(duì),團(tuán)隊(duì)成員100%碩博學(xué)歷,平均新能源材料檢測(cè)領(lǐng)域從業(yè)3年以上。他們的專業(yè)知識(shí)和豐富經(jīng)驗(yàn)可以提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù)。我們全國(guó)共有31個(gè)分部,20個(gè)自營(yíng)實(shí)驗(yàn)室,這使得我們可以提供全方面的電池材料測(cè)試服務(wù),滿足不同企業(yè)的需求。根據(jù)不同企業(yè)的需求,我們可以提供定制化的測(cè)試服務(wù),幫助企業(yè)更好地研發(fā)和生產(chǎn)電池材料。 通過(guò)SEM掃描電鏡檢測(cè),可以觀察電池材料中的微觀形貌和尺寸分布情況。

電池材料的界面結(jié)構(gòu)和界面特征對(duì)于電池的性能具有重要影響。SEM技術(shù)可以用于觀察電池材料的界面結(jié)構(gòu)和界面特征,如電解質(zhì)和電極材料的界面、電極表面的保護(hù)膜以及界面反應(yīng)等。這些信息對(duì)于理解電池材料的界面性質(zhì)、解決界面問(wèn)題以及提高電池的界面穩(wěn)定性具有重要意義。在鋰離子電池中,通過(guò)SEM技術(shù)可以清晰地觀察到電解質(zhì)和電極材料之間的界面結(jié)構(gòu)??梢杂^察到電解質(zhì)在電極表面的浸潤(rùn)情況、電極表面的保護(hù)膜形態(tài)以及界面反應(yīng)等現(xiàn)象。這些信息有助于了解電解質(zhì)和電極材料之間的相互作用機(jī)制,為優(yōu)化電解質(zhì)和電極材料的匹配性、提高電池性能提供有力支持。在SEM掃描電鏡的幫助下,我們能夠迅速識(shí)別電池材料中的各種缺陷,幫助客戶改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量。服務(wù)優(yōu)SEM掃描電鏡天然石墨微區(qū)元素分析組成測(cè)試ppmppb

我們的檢測(cè)服務(wù)團(tuán)隊(duì)通過(guò)SEM掃描電鏡技術(shù),可以為客戶提供獨(dú)特的解決方案。數(shù)據(jù)準(zhǔn)SEM掃描電鏡干法隔膜厚度檢測(cè)測(cè)定

負(fù)極極片表面包覆層分析

客戶需求

在電池制造工藝中,表面包覆層不僅關(guān)乎電池的性能提升,還能夠防止電極與電解質(zhì)的反應(yīng),從而延長(zhǎng)電池的使用壽命。然而,由于表面包覆層非常薄,制備和測(cè)試分析變得更加困難。因此,需要采用先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備來(lái)檢測(cè)其元素分布和形貌。

解決方案

FIB透射制樣技術(shù)常用于制備細(xì)微樣品,可以在非常小的切片尺寸下進(jìn)行高質(zhì)量的切割和觀察,通過(guò)FIB制備樣品,我們可以觀察到表面包覆層的微觀結(jié)構(gòu)和元素分布。而SIEM作為表面形貌分析利器,可以在很小的尺寸范圍內(nèi)觀察樣品的表面形貌和細(xì)節(jié)。配合使用TEM這種更高分辨率的顯微鏡,可以提供更細(xì)致的樣品形貌和元素分布。

檢測(cè)結(jié)果

FIB+SEM極片 數(shù)據(jù)準(zhǔn)SEM掃描電鏡干法隔膜厚度檢測(cè)測(cè)定